Контрольная Сравнительный анализ программных пакетов моделирования электронных схем, номер: 219820

"Актуальность работы, быстрые темпы развития современных электронных компонентов составляют потребность в инновационных методах проектирования и тестирования компонентов и приборов. С уменьшением размера деталей все сложнее проводить необходимые операции традиционными методами.
Современный технический процесс производства полупроводниковой электроники, достигает нанометровой (до 25 нм) точности, например, в современных процессорах. Малые размеры требуют специального высокоточного оборудования проектирования и производства. Это приводит к невозможности ручного производства современных устройств. Использование последних достижений позволяет уменьшить размеры и увеличить мощность, то есть вместить больше полупроводниковых элементов на единицу поверхности, что приводит к увеличению мощности и функциональности

ЛИТЕРАТУРА
1. Советов Б. Я. Моделирование систем / Б. Я. Советов, С. А. Яковлев. — М. : Высш. шк., 2014. — 343 с.
2. Опадчий Ю. Ф. Аналоговая и цифровая электроника (полный курс) / Ю. Ф. Опадчий, О. П. Глудкин, А. И. Гуров. — М. : Горячая Линия–Телеком, 2011. — 768 с.
3. Хернитер М. Е. Электронное моделирование в Multisim / М. Е. Хернитер. — М. : ДМК, 2012. — 488 с.
4. Амелина М. А. Программа схемотехнического моделирования MicroCAP / М. А. Амелина, С. А. Амелин. — М. : Горячая линия–Телеком, 2013. — 464 с.
"