Отчет по практике ООО «Фабрика окон Тула»., номер: 348730

Введение
Раздел I
1.1 Основные сведения о предприятии.
1.2 Изучение основ метрологического обеспечения на производстве. Основные понятия в сфере метрологического обеспечения.
1.3 Анализ влияния метрологического обеспечения на качество выпускаемой продукции.
Раздел II
2.1 Освоение работы с осциллографом .
2.2 Основные технические характеристики осциллографа.
2.3 Устройство и работа осциллографа.
2.4 Порядок работы.
2.5 Освоение работы с мультиметром.
2.6 Измерения при помощи мультиметра.
2.7 Разработка макета информационно-измерительной системы в LabVIEW.
Заключение

Список использованных источников

1. Федеральный закон от 27.12.2002 N 184-ФЗ (ред. от 28.11.2015) "О техническом регулировании"
2. Федеральный закон от 26.06.2008 № 102-ФЗ (ред. от 13.07.2015) Об обеспечении единства измерений
3. Управление качеством технологических процессов: Монография / Королѐв.: Издательство «Научный консультант» 2016. -149 с.
4. Шкаруба Н.Ж. Анализ качества измерительных процессов и систем: М.:2016 – 51 с.
5. Подувальцев В.В. Законодательная метрология: Учебное пособие / М.:2016 – 300 с.
6. Тулкуева М.Ю. Метрология и стандартизация: Учебно-методическое пособие / СПб.:2016 – 48 с.
7. Секацкий В.С. Пакалов Ю.А. Мерзликина Н.В. Методы и средства измерений и контроля / Сибирский федеральный университет – Красноярск: 2017 – 313
8. Леонов О.А. Методы и средства измерений : Учеб. пособие. : М. 2017 – 164 с.
9. Максимова И.Н. Метрологическое обеспечение производства. : Учеб. пособие. : Пенза: 2017 – 220 с.
10. Зеньков Е.В., Молчанова Е.Д. Метрологическое обеспечение производственных процессов.: Метод. указания. : Иркутск: 2017 – 24 с.
11. Гуськов Г.Я. Монтаж микроэлектронной аппаратуры – М., 2016 – 84 с.
12. Тревис Дж. LabVIEW для всех: Пер.с англ. Клушин Н.А. – М.,2005- 544 с.
13. Евдокимов Ю.К., Линдваль В.Р., Щербаков Г.И. LabVIEW для радиоинженера: от виртуальной модели до реального прибора.- М., 2007- 400 с.
14. Гельман М.М. Аналого-цифровые преобразователи с для информационно- измерительных систем. – М., 1989-320 с.