Контрольная Основы теории надёжности Вариант 15, номер: 265828

Содержание
Введение 2
Задание 1 3
Задание 2 6
Заключение 9
Библиографический список 10

Задание 1
Оценка влияния температуры на надежность интегральных микросхем
Задание 2
Задача 1
На испытание поставлено =2020 изделий. За время =4500 ч. отказало =113 изделий, за последующие =160 ч. отказало еще =26 изделий. Определить вероятность безотказной работы (отказа) в моменты времени и на интервале , а также величины: - интенсивность отказов на интервале , - среднее время наработка до отказа, - частоту отказов.
Задача 2
Электронное устройство непрерывно работает в течение t ч. Число входящих в него элементов и режимы их работы приведены в таблице. Вычислить вероятность безотказной работы и среднюю наработку до отказа.
Количество, ni Интенсивность отказов,